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MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。
·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ·
?質量數范圍： 300amu，500amu，1000amu ·檢測器： 離子計數探測器、正負離子探測器、107 cps ·質量過濾器： 3F四級桿 ·桿直徑： 9mm ·加熱： 250℃ ·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。 ·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ·質量數范圍： 300amu，500amu，1000amu ·檢測器： 離子計數探測器、正負離子探測器、107 cps ·質量過濾器： 3F四級桿 ·桿直徑： 9mm ·加熱： 250℃ ·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
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